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    平面度測量介紹

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    平面度測量介紹

    發布日期:2019-08-03 作者:admin 點擊:

            長度計量技術中對平面度誤差的測量。平面是由直線組成的,因此直線度測量中直尺法、光學準直法、光學自準直法、重力法等也適用于測量平面度誤差。測量平面度時,先測出若干截面的直線度,再把各測點的量值按平面度公差帶定義(見形位公差)利用圖解法或計算法進行數據處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板涂色法測量平面誤差的。光波干涉法常利用平晶進行,圖為測量所得的不同干涉條紋。圖中a的干涉條紋是直的,而且間距相等,只在周邊上稍有彎曲。這說明被檢驗表面是平的,但與光學平晶不平行,而且在圓周部分有微小的偏差。圖中b的干涉條紋彎曲而且間隔不相等,表明被檢驗表面是球形的,平晶有微小傾斜。條紋彎曲度約為條紋間距的1.5倍,表示平面度誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中c的干涉條紋呈圓形,同樣表明被檢驗表面是球形表面。將條紋數目乘以所用光束波長的一半,即得所求的平面誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中d的干涉條紋成橢圓形排列,說明被檢驗表面是桶形的??梢园迅缮鎴D案作為被檢驗表面的等高線,因此可以畫出該表面的形狀。這種方法僅適宜測量高光潔表面,測量面積也較小,但測量精確度很高。


            深圳市森川科技有限公司是一家集研發、制造、銷售、服務為一體的國內領先的自動化檢測設備制造商。目前公司主要專注于手機部品、平板電腦部品、汽車部品等精密零組件相關的平面度檢測、尺寸檢測、外觀分選等檢測包裝設備。公司成立于2011年,一直以來注重產品的研發,秉承‘只有創新才能讓讓公司穩健成長,只有為客戶提供更好的產品和服務才能取得共贏’的理念來為社會服務。




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